高精度で幅広い試験範囲に対応する巻線部品安全試験用計測器「モデル 19301」を販売開始します。

クロマジャパン株式会社（所在地：神奈川県横浜市港北区新羽町472 代表取締役社長 黄欽明）は、低インダクタンス用インパルス試験器「モデル 19301」を発表しました。2013年12月上旬から出荷開始予定。

■開発背景
近年スマートホン市場が顕著に伸びており、高精度な巻線部品測定器の需要が一層高まっています。しかし、低インダクタンスの測定ができる巻線部品測定器はまだ少ない状況です。当社はそこに着目し、低インダクタンス部品を効率的に測定できるインパルス試験器「モデル19301」を開発しました。「モデル19031」は0.1〜100μHの範囲までのレアショットが検出測定でき、生産ラインで求められる正確で効率的な使用条件にぴったりの1台です。

■特長
(1)高精度試験機
クロマ19031インパルス試験器は、印加電圧10〜1000Vdcに対応し、高速200MHzのサンプリングによって取得した波形データを4種類のインパルス試験判定方法(波形面積比較/波形差分面積比較/波形フラッター検出/波形二次微分検出)を使用し、高精度な測定ができます。
また、試供体インダクタンス試験範囲は0.1μH〜100μHで対応しております。

(2)レアショート検出に最適
巻線部品の測定には電気特性試験や電気安全規格の耐圧測定などがあります。その中で巻線部品が絶縁不良を起こす原因の一つに、使用環境によって発生するレアショートが挙げられます。レアショートは初期の設計不良や絶縁材料の劣化などが原因と考えられますが、クロマ19301ではこの様なレアショートの検出を行う場合にもお勧めの1台です。

(3)高技術力で0.1μH〜測定可能
クロマ19301のインパルス試験は0.1μHから測定が可能です。4端子試験回路機能を使用することにより、超低インダクタンスのコイル、チップ、パワーインダクタンス測定以外にも、チョークコイル、巻線の少ないコイルの測定にも最適です。また、コンタクトチェック測定、インダクタンス測定、及び電圧補償機能により、精度の高い測定が可能なインパルス試験器です。

(4)効率的な試験環境の構築
生産ラインでは、正確かつ効率的な試験環境が求められます。クロマ19301は電圧補償機能がありますのでケーブルなどで発生する測定誤差を改善し、より正確な試験環境の構築ができる試験器です。また、最速測定スピード120ms(1パルス・標準充電時間)の高速試験が可能です。

(5)インターフェース
ディスプレイにはTFTカラーLCDを使用し、ユーザーの操作性を追求したGUIを採用しております。測定した波形は、装置前面に装備されたUSBインターフェースを経由し、画面のハードコピー及び測定データの保存が可能です。

当製品は生産現場のみならず、開発、品質保証などの幅広い分野でご活用いただけます。

製品紹介ページ
http://www.chroma.co.jp/product/低インダクタンス用インパルス試験器.htm