コンパクト・ロジックテスタ μTAT5300-Cube

【μTAT5300-Cube】は、測定周波数：100MHz、最大搭載ピン数：512ピンの高速ロジックテスタ。MCU、ASIC、Memory、System LSIなど各種デバイスの評価／解析から量産まで対応。テスト条件をピンごとに設定できるパー・ピン・アーキテクチャを採用。STIL言語(Standard Test Interface Language)のダイレクトインターフェースを装備し、テストプログラムの開発期間短縮を実現。サイズはW376×D480×H516mmと非常にコンパクトで、机上に設置可能。