高出力レーザー測定非接触ビームプロファイラー

最終更新日:2024/03/27

NIR(950〜1100nm)とVIS(420〜635nm)のレーザーに対応

【Ophir BeamWatch Plus】は、ビームによって発生するレイリー散乱を利用して、連続測定を行う産業用ビームプロファイラー。焦点スポットサイズ、ビーム位置、およびビーム全体のコースティクスを瞬時に確認できるほか、プロセスの開始時に焦点面の位置を動的に測定可能。プロセスを停止したり、固定具を取り外すことなく測定が行え、バッテリーセルの銅溶接やヘアピン溶接など、材料加工や自動車用途でのレーザー溶接および切断に最適。