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製品カタログ・資料
- 超高速光干渉断層撮像3次元計測センサ heliInspect
ファイル形式：pdf ファイルサイズ：1.63MB【heliInspect】は、対象物の3次元形状をサブミクロンの高精度で計測するheliotis社製光干渉断層計測3次元センサ。ステージ一体型であり、インラインで3次元検査を行いたいという要望から開発された。高度な演算処理を行うことができる独自のCMOSセンサにより、非接触で高精度かつ高速な3次元計測が可能。
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