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【半導体検査向け】ハイパースペクトルデータ処理ソフトウェア LuxFlux

最終更新日:2024/05/10

素材分類、異物混入検査、半導体・FPDの厚み測定が可能

【LuxFlux】は、ハイパースペクトルイメージング(HSI)技術を中心としたデータ処理を行う汎用的な産業用ソフトウェア。機械学習(AI)による解析・測定モデル開発を行うことで、製造ラインにおいて対象物の可視化・分類が可能。分類用途に加え、薄膜の厚さや、薬・食品などの対象物の成分量を測定できるため、製品検査で高品質が要求される食品加工や、半導体製造の出荷検査工程に活用することが可能。

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製品カタログ・資料

: 【ハイパースペクトルイメージング・カメラ&データ処理ソフトウェア】LuxFlux
ファイル形式：pdf ファイルサイズ：7.2MB【LuxFlux】は、ハイパースペクトルイメージング(HSI)技術を中心としたデータ処理を行う汎用的な産業用ソフトウェア。機械学習(AI)による解析・測定モデル開発を行うことで、製造ラインにおいて対象物の可視化・分類が可能。分類用途に加え、薄膜の厚さや、薬・食品などの対象物の成分量を測定できるため、製品検査で高品質が要求される食品加工や、半導体製造の出荷検査工程に活用することができる。

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