四重極-飛行時間型質量分析計 Xevo G2-XS Tof
最終更新日:2014/12/04
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常に再現性のある高品質なデータを取得
【Xevo G2-XS Tof】は、同社Xevoイオン源の自在に切り替え可能な設計により、様々なアプリケーションへの対応する質量分析計。複雑なサンプルマトリックスで、クロマトグラフィーのピーク幅が極めて狭い場合でも、質量分析パフォーマンスを損なうことなく同定および定量することが可能。自動システム最適化、ステータスモニタリング、UPLC ／MSシステムチェックなどが内蔵されたIntelliStartテクノロジーにより、常に再現性のある高品質なデータ取得を行える。
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