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小型レーザ干渉計 KIF-20-DW

アールエムテック(株)

最終更新日:2015/10/21

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小型で使いやすく、高精度かつ安定した検査測定が可能

【KIF-20-DW】は、光学部品の面精度測定をするための干渉計システム。オリンパスが開発した製品で、生産現場における平面および球面の面精度の迅速な品質検査と数値管理に最適。干渉縞数値化ソフトウェア「KIF-FIA」を搭載したPCを標準装備しており、従来の干渉縞観察に加え、干渉縞から収差を数値化表示することが可能。数値データや画面データの保存、印刷が可能なため、製造工程内の品質管理に適している。またアリ溝式の新タイプの参照レンズマウントを採用することで、参照レンズ着脱時の落下破損防止や、参照レンズの交換が簡単かつ短時間で可能となり、生産効率の向上に貢献。小型高剛性、防振機能付きで、生産現場での使用環境を考慮しているため、耐環境性・操作性に優れている。

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中央区日本橋浜町2-30-1　IKビルディング7F

Web：: http://www.rmtec.co.jp/

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