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【カタログプレビュー】技術資料 オシロスコープのFRA(周波数解析)機能

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本資料は、内蔵の任意信号発生器で発生したスイープ信号とオシロスコープの2チャンネルの振幅・位相差を自動測定してグラフ化する周波数解析機能である、「MDO-2000Eシリーズ」のFRA機能について解説。周波数特性があるフィルタやアンプ、フィードバック回路のゲイン余裕・位相余裕を測定することが可能。
発行元：(株)テクシオ・テクノロジー
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企業基本情報

社名：
(株)テクシオ・テクノロジー
住所：
〒 222-0033
神奈川県 横浜市港北区新横浜2-18-13　藤和不動産新横浜ビル7F
Web：
http://www.texio.co.jp/

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