【カタログプレビュー】コンパクト型蛍光X線方式測定器 XANシリーズ
【FISCHERSCOPE X-RAY XANシリーズ】は、効率の高い材料分析ツール「蛍光X線法」を採用した素材分析機器。分かっていない材料を簡単・迅速・正確に分析できる。膜厚測定に広く使われているだけでなく、元素の同定にも好適。測定方向が下側から照射されるため、サンプルのポジショニングが容易な装置。粉末やペーストでも、固体や液体の材料と同様に分析可能。濃度が非常に低くても、アルミニウムからウランまでの元素検出が行える。
<非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>
【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、 プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定