【カタログプレビュー】蛍光X線式測定器 XDALシリーズ
【XDALシリーズ 】は、プログラム機能付き電動式XYステージを搭載した蛍光X線式測定器。ハウジングに細い開口部(Cスロット)があり、大きな板状のサンプルも測定可能。4種類のコリメーターと3種類のプライマリフィルターを搭載しており汎用性が高い。X線検出器に半導体検出器(PIN)を搭載した「XDAL 237」、シリコン・ドリフト検出器(SDD)を搭載した「XDAL 237 SDD」をラインナップ。
<非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>
【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、 プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定