【カタログプレビュー】導電率計 SIGMASCOPE SMP350
【SIGMASCOPE SMP350】は、渦電流位相式(DIN EN 2004-1およびASTM E 1004に準拠)による導電率の非接触測定が行える導電率計。厚さ:500µmまでのペイントやプラスチック皮膜を通して、その下の非鉄金属の導電率測定が可能。測定方法:渦電流位相式、測定値記録 :256MB(アプリケーションと測定値)、電源:単3電池×4本・ACアダプタ(100~240V)。
<非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>
【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、 プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定