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【カタログプレビュー】ICテストソケット

半導体デバイスやモジュール用のICテストソケットをカスタムで製作。特殊なデバイス形状で汎用のICソケットが無い場合や、表面観察や温度測定などで蓋に穴を開けたいなどの特殊要求、大電流ICテストソケット、非磁性ICソケットなど相談可能。デバイスと基板間の接点には、コンタクトプローブと異方性導電ゴムが選択できる。
発行元:テスプロ(株)

企業基本情報

社名:
テスプロ(株)
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