半導体デバイスやモジュール用のICテストソケットをカスタムで製作。特殊なデバイス形状で汎用のICソケットが無い場合や、表面観察や温度測定などで蓋に穴を開けたいなどの特殊要求、大電流ICテストソケット、非磁性ICソケットなど相談可能。デバイスと基板間の接点には、コンタクトプローブと異方性導電ゴムが選択できる。