弊社では7月に開催し、大変ご好評いただきました粒度分布セミナーの第2弾として「ナノ粒子計測の基礎」を企画いたしました。

近年の新しいテクノロジーは様々な「もの」の微小化によって支えられていると言っても過言ではありません。
各種産業で材料として用いられる、粒子についてももちろん例外ではなく、ナノ領域の粒径計測は多くの場面で用いられようになってきております。
本セミナーでは、長年のレーザー技術のノウハウを基として、ナノ粒子計測に用いられる動的光錯乱法(Dynamic Light Scattering)や画像法など各種の計測手法を、実際の機械を用いながら、それぞれの特徴などをご紹介致します。
また、7月より販売開始いたしました、粒度分布計FLDシリーズのほか弊社が有する最新の粒子計測手法や、インクジェット向けの噴霧計測のホットな情報を紹介いたします。

■ナノ粒子 粒度分布計 FLD-802の詳細はこちら
https://www.seika-di.com/measure/photon-correlation/item_84

■その他粒子計測ソリューションはこちら
https://www.seika-di.com/measurement/combustion/particle.html

ナノ粒子計測を実際に行っている方、ナノ領域の粒度分布計の導入をお考えの皆様など、お気軽にお越しいただければと思います。

日 時 ： 令和元年9月26日（木）　14:30～　(受付開始 14:15～)
場 所 ： 西華デジタルイメージ株式会社　セミナールーム（5F）
　　　　　東京都港区赤坂4-9-6　タク赤坂ビル　TEL:03-3405-1280
参加費用 ： 無料
お申し込み締め切り ： 令和元年9月20日（金）

※ご注意）今回の新製品発表会は定員が30名となっております。参加者数が定員になり次第受付を終了させて頂きますので、お申し込みはお早めにお願い致します。

【お申し込み方法】
こちらのお申し込みフォームにご記入の上、お申し込みくださいませ。
https://www.seika-di.com/contact_products/seika_20190926seminar.html

【粒度分布計新製品発表会プログラム（暫定）】
14:15～　受付開始
14:30～　開会のあいさつ、セミナー内容説明
14:35～　「粒子径計測とは何か」
　　　 　「マイクロ粒子計測について」
　　　 　「ナノ粒子計測の基礎」
16:00～　休憩
16:10～　粒子計測機器の実演(シャドウグラフ:画像法、動的光錯乱法による粒度分布計 FLD-802、他)
17:30～　質疑応答、閉会の挨拶
尚、本プログラムは都合により変更になる場合がありますのでご了承ください。

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【お問い合わせ先】
西華デジタルイメージ株式会社　計測1G
電話：03-3405-1280
メール：info@seika-di.com

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