Electro-Photonics社製、高周波用テスト冶具「FRFL-0746」を発表
2012/11/26
オプトシリウス(株)
Electro-Photonics社はテスト冶具、部品評価のためのエバリュエーションボード、ワイヤボンディング受動部品、SMTハイブリッドカプラー、同軸部品、パッケージを製造している。同社は30年を超えるRF & マイクロ波テスト冶具、評価ボードの設計・製造の実績を持ち、顧客の希望要求に応え、部品販売だけでなく顧客の研究開発にも積極的に提案する(110GHz帯計測サービス、チップ、ワイヤアッセンブリ10K clean room)。
パッシブ相互変調(PMI)は昨今のワイヤレスネットワークのパフォーマンスにおいて重要な計測パラメーターになっている。PIMはアクティブデバイスにおいてよく発生し、パッシブデバイスにおいてPIMの原因をピンポイントで探し出すのは非常に困難になっている。PIMは、2つ以上のハイパワーRF信号が入力されることによって、デバイスなどのパッシブ部品で発生する相互変調歪である。信号強度が過大で、伝送経路でPIMが発生すると、無線通信の品質や感度に悪影響を及ぼす。Electro-Photonics社は、ハイパワーターミネーションおけるPIMテスト冶具FRFL-0746を開発した。FRFL-0746は様々な大きさのDUTにおいてより良いPIM特性を供給するため開発され、最大の送信電力と最小の反射電力の変化を最良にするため設計されている。
http://www.optosirius.co.jp/MW/
パッシブ相互変調(PMI)は昨今のワイヤレスネットワークのパフォーマンスにおいて重要な計測パラメーターになっている。PIMはアクティブデバイスにおいてよく発生し、パッシブデバイスにおいてPIMの原因をピンポイントで探し出すのは非常に困難になっている。PIMは、2つ以上のハイパワーRF信号が入力されることによって、デバイスなどのパッシブ部品で発生する相互変調歪である。信号強度が過大で、伝送経路でPIMが発生すると、無線通信の品質や感度に悪影響を及ぼす。Electro-Photonics社は、ハイパワーターミネーションおけるPIMテスト冶具FRFL-0746を開発した。FRFL-0746は様々な大きさのDUTにおいてより良いPIM特性を供給するため開発され、最大の送信電力と最小の反射電力の変化を最良にするため設計されている。
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