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コンタクトプローブ BGA検査用0.6nHコンタクトプローブ

(株)ヨコオ

最終更新日:2014/01/30

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  • コンタクトプローブ BGA検査用0.6nHコンタクトプローブ
超低背・低インダクタンスを実現
【BGA検査用0.6nHコンタクトプローブ】は、BGAデバイス高速検査ニーズに対応する超低背・低インダクタンスのコンタクトプローブ。使用長:1.0mm(同社従来品1.8mm)、インダクタンス:0.6nH(従来品1.0nH)で、対応検査周波数帯域の上限も5GHz(従来品3GHz)に拡大した。全長:1.3mm、使用ストローク:0.3mm、バネ圧:20g。

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