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コンタクトプローブ BGA検査用0.6nHコンタクトプローブ

(株)ヨコオ

最終更新日:2014/01/30

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  • コンタクトプローブ BGA検査用0.6nHコンタクトプローブ
超低背・低インダクタンスを実現
【BGA検査用0.6nHコンタクトプローブ】は、BGAデバイス高速検査ニーズに対応する超低背・低インダクタンスのコンタクトプローブ。使用長：1.0mm（同社従来品1.8mm）、インダクタンス：0.6nH（従来品1.0nH）で、対応検査周波数帯域の上限も5GHz（従来品3GHz）に拡大した。全長：1.3mm、使用ストローク：0.3mm、バネ圧：20g。
    　　　　　　　　

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