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Dimensional X線CT ZEISS METROTOM800／METROTOM1500

株式会社 進和（計測技術課）

最終更新日:2021/10/11

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  • Dimensional X線CT ZEISS METROTOM800／METROTOM1500
内部計測が可能で高精度、VDI／VDE準拠の精度保証：4.5＋L／50μm
【ZEISS METROTOM800／METROTOM1500】は、樹脂や軽金属を中心に、見えない箇所も簡単に寸法測定・形状評価ができる高精度X線CT。内部の欠陥観察だけではなく、ドイツの規格であるVDI／VDE2630に準拠したトレーサビリティのとれた測定精度を持って寸法測定を実現。測定評価には汎用測定ソフトウェア「ZEISSCALYPSO」を使用することで門移動型座標測定機と同様のサイズ、形状、位置といった3次元座標測定技術を用いた専門的分析が可能。
    　　　　　　　　
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