タルボ・ロー干渉計システム Talint
最終更新日:2024/07/29
このページを印刷X線タルボ・ロー干渉計のシンプルなキット
【Talint】は、X線タルボ・ロー干渉計のシンプルなキット。X線管と検出器のあるラボに追加することで使用できる。サンプルによるX線通過後の位相のゆがみを、回折格子(位相格子)によって生じる自己像ともう一つの回折格子(吸収格子)との重ね合わせによるモアレ縞に反映し、モアレ縞のゆがみを検出して画像化する。一度の撮像で透過・微分位相・暗視野(小角散乱)の各像が取得できるほか、軽元素物質に対して高感度で、微細構造の画像化が可能。X線透過像では確認できない、サンプルの内部・表面構造を撮像できる。アプリケーション例:非破壊検査、異物検査、腫瘍病変の撮像、炭素繊維強化プラスチックのCT撮像など。
製品カタログ・資料
- タルボ・ロー干渉計システム Talint
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