HALT試験サービス

HALT試験】とは、被試験品に対して仕様を超える温度・振動ストレスを印加することにより機器に潜在する故障要因(故障の芽)を早期に発見し、要因を改善することにより信頼性を向上させるための試験である。同社では、「HALT試験サービス」を行うことにより、限られた時間の中で製品の信頼性向上の実現に寄与。ユーザーは、製品出荷後に起こりかねない不具合により発生する多額な費用や、企業のブランドイメージ低下を回避することが可能となる。「故障の芽」の事例として、設計過誤：タイミングマージン不足・IC入出力ピンの未処理、部品の脱落：電源用コンデンサー・LDモジュール、接触不良：コネクタの接触不良・はんだ付け不良、などが挙げられる。