光学干渉式リアルタイム膜厚モニター
最終更新日:2014/02/01
このページを印刷さまざまな薄膜の厚みを非接触で測定可能
【光学干渉式リアルタイム膜厚モニター】は、さまざまな薄膜の厚みを非接触で測定することが可能なシステム。分光器「AvaSpec-2048/3648」+専用ソフトウェア「AvaSoft-Thinfilm」+光源「AvaLight-DHc」+ファイバーで構成され、測定サンプルより反射される白色光の干渉パターンを観測し、薄膜材料の物性値を用いることにより膜厚を算出する。膜厚の測定範囲は10nm〜50μm、分解能は1nm。ソフトウェア「AvaSoft-Thinfilm」は、一般的によく使用されるマテリアルやコーティング材料(レジスト、酸化物、ポリイミド、セルギャップなど)の物性値、n値とk値がデータベース化されている。主な仕様は、分光器「AvaSpec-2048/3648」:Grating UA(200〜1100nm)、100μm slit、DUV coating、OSC-UA、光源「AvaLight-DHc」:重水素-ハロゲンライト、ファイバー:FCR-7UV200-ME(反射プローブ)、UV/VIS、2m、SMA、など。
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