光学干渉式リアルタイム膜厚モニター
最終更新日:2014/02/01
このページを印刷さまざまな薄膜の厚みを非接触で測定可能
【光学干渉式リアルタイム膜厚モニター】は、さまざまな薄膜の厚みを非接触で測定することが可能なシステム。分光器「AvaSpec-2048/3648」+専用ソフトウェア「AvaSoft-Thinfilm」+光源「AvaLight-DHc」+ファイバーで構成され、測定サンプルより反射される白色光の干渉パターンを観測し、薄膜材料の物性値を用いることにより膜厚を算出する。膜厚の測定範囲は10nm〜50μm、分解能は1nm。ソフトウェア「AvaSoft-Thinfilm」は、一般的によく使用されるマテリアルやコーティング材料(レジスト、酸化物、ポリイミド、セルギャップなど)の物性値、n値とk値がデータベース化されている。主な仕様は、分光器「AvaSpec-2048/3648」:Grating UA(200〜1100nm)、100μm slit、DUV coating、OSC-UA、光源「AvaLight-DHc」:重水素-ハロゲンライト、ファイバー:FCR-7UV200-ME(反射プローブ)、UV/VIS、2m、SMA、など。
一緒に閲覧されている製品
その他製品一覧
デジタル動揺計 W0051/W0031A
分離型プッシュプルテスター MP…
味認識装置 TS-5000Z
微小寸法計測装置
ホルムアルデヒド除去塗料 環境…
携帯型3次元セルフポジションレ…
精密型プッシュプルテスター MP…
トルク計測用モービルテストベ…
ヘリウムリークディテクタ M-22…
微小異物検査装置
ポータブルトルク計測器 SCHATZ…
赤外線ループスキャナ Rota-Son…
デジタル紫外線強度計 UV-2500Ⅲ
高速ボトル印刷検査システム TS…
デジタル渦流テスタ DEFECTOMET…
Wi-Spyスペクトラム解析ソフト…
LED検査モジュール FINNシリーズ
ヘリウムリークディテクタ M-23…
自動試験・評価システム ペリテ…