レーザー超音波検査システム LUIS

【LUIS】は、航空宇宙用材料のためのレーザー超音波欠陥検査システム。柔軟性に富み、曲率を持った航空宇宙部品の検査・点検が可能。非接触による計測であるため、さまざま形状の部品を検査することが可能。部品形状に関する事前調査は不要で、準備と点検にかかる時間を節約し、曲がりや傾斜を持つ部品の高速な検査を実現。光学システムの柔軟性と超音波検査の精度を一体化。取得された超音波データの処理と解釈は、本機のデータとして直接適応され、測定結果はフルAスキャン、BスキャンとCスキャンイメージングソフトウェアで提供される。個体構造または接着されたハニカム構造複合材料の層剥離、異物混入、未接着などの多様な欠陥を検出可能。欠陥位置を容易に特定でき、検査後に迅速に改善措置を施せる。最大スキャニング範囲：1.8×1.8×4m、検査レート：100Ascan／s。