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超音波デジタル画像診断システム IS-350

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最終更新日:2014/02/01

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  • 超音波デジタル画像診断システム IS-350
非破壊で半導体内部を評価
【IS-350】は、超音波を使い、非破壊で電子部品や半導体パッケージ内の欠陥検出と信頼性評価を行なえる装置。貼り合わせウエハの剥離検出、CSPやフリップチップのアンダーフィル内のボイドおよび剥離評価、プラスチックパッケージの評価、セラミックコンデンサの層間剥離検出、パワー半導体評価などに最適。スキャニング中に超音波波形を収集し、収集した波形でA・B・Cイメージ画像の再描画と再評価が可能。2チャネルの同時データ収集が可能であるため、探傷時間を短縮し、異なる評価箇所を同時に画像化。有効スキャニングエリア:350×350mm、最大スキャン速度:1000mm/sec、エンコーダ分解能:0.5μm、探傷周波数:最大500MHz、表示モード:超音波波形(A)/断面波形映像(RF・B)/平面映像(C)/TOF・FFT解析/立体画像ほか。

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