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現象解析システム

TMCシステム株式会社

最終更新日:2025/09/18

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  • 現象解析システム
高速度カメラを利用した物理量計測システム
本製品は、高速度カメラによる現象撮影と、センサによる物理量計測を統合したシステム。撮影した画像とセンサの測定値の比較/解析が容易に行える(カメラ撮影速度と測定サンプリングを同期)。フォトロン製の高速度カメラにより、ソフトウェアの統合が可能。構成例は、落下物の画像撮影と衝撃力を計測し、取得したデータを同期させ、ソフトウェア上で解析する落下物の衝撃解析装置など。

製品カタログ・資料

現象解析システム
現象解析システム

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:0.39MB高速度カメラを利用した物理量計測システム 特徴 ●高速度カメラによる現象撮影と、センサーによる物理量計測を  統合したシステム ●撮影した画像とセンサーの測定値の比較/解析が容易に可能  (カメラ撮影速度と測定サンプリングを同期) ●(株)フォトロン製の高速度カメラで、ソフトウェアの統合が可能 構成例 ●落下物の衝撃解析装置 落下物の画像撮影と衝撃力を計測、取得したデータを同期させ、 ソフトウェア上で解析します。 ※詳細はカタログをダウンロードしてご確認ください。  気になる点がございましたら、お気軽にTMCシステムへお問合せください。

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企業基本情報

社名:
TMCシステム株式会社
住所:
〒 210-0001
川崎市川崎区本町1-6-1
Web:
http://www.tmcsystem.co.jp/