現象解析システム

製品カタログ・資料

現象解析システム

ファイル形式：pdf ファイルサイズ：0.39MB高速度カメラを利用した物理量計測システム 特徴 ●高速度カメラによる現象撮影と、センサーによる物理量計測を 　統合したシステム ●撮影した画像とセンサーの測定値の比較/解析が容易に可能 　(カメラ撮影速度と測定サンプリングを同期) ●(株)フォトロン製の高速度カメラで、ソフトウェアの統合が可能 構成例 ●落下物の衝撃解析装置 落下物の画像撮影と衝撃力を計測、取得したデータを同期させ、 ソフトウェア上で解析します。 ※詳細はカタログをダウンロードしてご確認ください。 　気になる点がございましたら、お気軽にTMCシステムへお問合せください。