【カタログプレビュー】蛍光X線式測定器 XDLシリーズ
【XDLシリーズ】は、比例計数管(PC)を搭載した蛍光X線膜厚測定器。使いやすい卓上型で、さまざまなXYステージのラインナップを取り揃えている。ハウジングに細い開口部(Cスロット)があり、大きな板状サンプルも測定可能。プログラマブルXYステージ付きのモデルで、自動連続測定が行える(XDL 240)。お問い合わせはこちらへ。
<非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が可能な蛍光X線方式膜厚測定器 XDV-SDD>
【XDV-SDD】は、電動ステージ付きで、非常に薄い皮膜の自動測定や微量分析が行える蛍光X線式測定器。シリコン・ドリフト・ディテクター(SDD)をX線検出器に採用、 プログラミング可能なXYステージを装備。大型でアクセス性のよい測定チャンバ(クローズドチャンバ―タイプ)を搭載。自社開発により進化を遂げたデジタルパルスプロセッサー「DPP+」を搭載し、従来のDPPに比べ最大50%性能向上し、測定時間の短縮に貢献。■極薄膜や多層膜の検査(電子・半導体産業など)
■トレース分析(RoHS、玩具、包装材基準のための有害物質検査など)■NiPの組成分析と薄膜測定