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技術資料 オシロスコープのFRA(周波数解析)機能

(株)テクシオ・テクノロジー

最終更新日:2026/05/25

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  • 技術資料 オシロスコープのFRA(周波数解析)機能
「MDO-2000Eシリーズ」の信号発生器を用いた周波数解析
本資料は、内蔵の任意信号発生器で発生したスイープ信号とオシロスコープの2チャンネルの振幅・位相差を自動測定してグラフ化する周波数解析機能である、「MDO-2000Eシリーズ」のFRA機能について解説。周波数特性があるフィルタやアンプ、フィードバック回路のゲイン余裕・位相余裕を測定することが可能。

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技術資料 オシロスコープのFRA(周波数解析)機能
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ファイル形式:pdf ファイルサイズ:2.01MB本資料は、内蔵の任意信号発生器で発生したスイープ信号とオシロスコープの2チャンネルの振幅・位相差を自動測定してグラフ化する周波数解析機能である、「MDO-2000Eシリーズ」のFRA機能について解説。周波数特性があるフィルタやアンプ、フィードバック回路のゲイン余裕・位相余裕を測定することが可能。

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“株式会社テクシオ・テクノロジー”は、直流安定化電源および電子・電気計測機器のメーカーです。
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〒 222-0033  横浜市港北区新横浜2-18-13 藤和不動産新横浜ビル7F

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