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アトミック・フォース・マイクロスコープ Q-Scope 400/250

アルテック(株)

最終更新日:2015/12/15

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  • アトミック・フォース・マイクロスコープ Q-Scope 400/250
サンプルは直径240mmまで測定可能
【Q-Scope 400/250】は、大きなサンプルを切断せずにスキャニングできるAFM(アトミック・フォース・マイクロスコープ)。Q-Scope 400は直径240mm、高さ25mmまで測定可能。CD/DVDや磁気ディスクの製造工程における観察・評価、8インチまでの半導体ウエハの観察・評価に有用。Q-Scope 250は150×150×50mmまで測定可能。

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