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微細欠陥検査装置

(株)中央電機計器製作所

最終更新日:2020/10/09

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  • 微細欠陥検査装置
光学分解能1.8μm、スピード検査
本製品は、高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた2次元の検査装置。光学フィルム、シートやタッチパネルなどの表面傷、異物の検査や欠陥検査に適している。光学分解能:1.8μmで、非常に高精細な検査が可能。寸法測定にも対応し、2次元の打ち抜き加工品などの検査も行える。

製品カタログ・資料

微細欠陥検査装置
微細欠陥検査装置

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:0.71MB高解像度カメラと高精度X-Yステージを用いた2次元の検査装置。光学フィルム、シートやタッチパネルなどの表面傷、異物の検査や欠陥検査に適している。光学分解能「1.8μm」で、非常に高精細な検査が可能。寸法測定にも対応し、2次元の打ち抜き加工品などの検査も行える。

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企業基本情報

社名:
(株)中央電機計器製作所
住所:
〒 534-0013
大阪市都島区内代町2-7-12
Web:
https://www.e-cew.co.jp/
TEL:
0669532366