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赤外波長レーザ干渉計 INTERFIREII

株式会社ティー・イー・エム

最終更新日:2017/07/18

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  • 赤外波長レーザ干渉計 INTERFIREII
赤外線材料およびシステム評価のために開発されたハイエンドタイプ
【INTERFIREII】は、赤外線材料およびシステム評価のために開発されたハイエンドタイプの赤外波長干渉計。アプリケーションは、レンズ・プリズムなどの波面収差測定、表面形状・光学的均質性や曲率半径の測定など。耐環境性に優れた解析ソフトウェア「μPhase」、高速データを取得可能な「Fast Fringe」が標準で付属。
    　　　　　　　　

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社名：
株式会社ティー・イー・エム
住所：
〒 162-0826
新宿区市谷船河原町9-1　NBCアネックス市谷ビル2階
Web：
https://tem-inc.co.jp/
TEL：
0362653310