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低高温環境テスト治具

テストデータシステム(株)

最終更新日:2014/02/01

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  • 低高温環境テスト治具
−40〜＋120℃での検査に対応
【低高温環境テスト治具】は、各種機構部材、配線素材について低温から高温まで対応、−40〜＋120℃の環境下での検査が可能な治具。バッチ処理対応、セミオート方式、フルオートなど、各自動機器に対応のほか、製品ユニットの一括試験や複数機種同時試験など、さまざまな試験要求に対応。エアープレス、モータなど多様な駆動仕様に対応。
    　　　　　　　　

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社名：
テストデータシステム(株)
住所：
〒 198-0171
青梅市二俣尾3-841
Web：
http://www.testds.jp/