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- 技術資料 電子デバイス洗浄後の分析の基礎知識
ファイル形式：pdf ファイルサイズ：2.15MB本資料は、電子デバイス洗浄後における分析の基礎知識について解説。目次は以下。 ■なぜ洗浄後に分析が必要なのか? - なぜ今「分析」が重要なのか - 分析対象となる残渣 - 残渣が引き起こす不具合例 ■ISO規格[ISO 9455-18：2024]と分析手法 - 外観観察(マイクロスコープ) - 微小物分析(SEM-EDS) - 有機物残渣分析(FT-IR) - イオン分析(IC／ROSE Test／C3) - 信頼性評価(SIR ／ LCR) - 複数の分析手法を用いた評価事例 ■ゼストロンの分析サービス
技術資料 電子デバイス洗浄後の分析の基礎知識のお問い合わせ
■なぜ洗浄後に分析が必要なのか?
- なぜ今「分析」が重要なのか
- 分析対象となる残渣
- 残渣が引き起こす不具合例
■ISO規格[ISO 9455-18：2024]と分析手法
- 外観観察(マイクロスコープ)
- 微小物分析(SEM-EDS)
- 有機物残渣分析(FT-IR)
- イオン分析(IC／ROSE Test／C3)
- 信頼性評価(SIR ／ LCR)
- 複数の分析手法を用いた評価事例
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