各種光ファイバ増幅器の励起用光源として開発された高出力LDについて、原理・特性・応用例を解説。

当社では1970年初頭、安立電気株式会社(当時)において計測器用LDの研究開発がスタートしました。その結果開発された光パルス試験機や基準光源などの製品群は光ファイバ通信の実用化に貢献しています。アンリツでは1990年代に将来の高速大容量光通信の長距離化に必須となる光ファイバ増幅器励起用光源1480nmレーザの開発に成功しました。さらに結晶成…

当社におけるSLDの研究開発は1980年代後半からスタートしています。現在、市場のニーズに即した形で830nmの短波長帯、1300～1650nm帯の長波長帯の各種モジュールをラインアップしています。

当社では1999年、アンリツ研究所(当時)においてGaAsを用いたHBTの半導体プロセス技術の研究開発を開始しました。これは自社製の高速ICを使用することでアンリツの計測器の独自性を高めることを目指したものでした。数年の研究期間を要しましたが、2003年にはGaAs-HBTを用いたMMICを光通信向け計測器に搭載することに成功しました。2008年にはさらに…

本論文では、当社製波長掃引光源のコヒーレンス長に焦点をあて、OFDRに用いた場合の測長可能範囲を評価した。また波長掃引速度がコヒーレンス長に与える影響について検討を行った。その結果、本光源が距離範囲10mから100mオーダのOFDR測定に適用可能であり、微小距離から長距離にわたり高速、高精度かつ同時に測定できることが示唆された。またコヒ…

波長掃引光源の概要と、波長掃引光源を用いたOFDR測定の基本構成および測定で注意すべき点等について解説。

波長掃引光源が適用できる応用分野と、アプリケーション例について解説。

【AF4Bシリーズ type E】は、エルビウムドープファイバアンプ励起用光源として開発された、1.48μm帯高出力・低消費電力のFP-LDモジュール。光アイソレータ、モニタPDおよびクーラ内蔵。

【AE5T310BY10P】は、InGaAsP／InP で構成された1.5μm帯の外部共振器型レーザ用ゲインチップ。光ファイバ通信や光計測用の狭線幅広帯域波長可変光源などの光学利得媒体として使用できる。

【AE5T315BY12P】は、InGaAsP／InPで構成された1.5μm帯の外部共振器型レーザ用ゲインチップ。光ファイバ通信や光計測用の狭線幅広帯域波長可変光源などの光学利得媒体として使用できる。

【AH54192A】は、専用電源が標準添付されたリニアアンプ。対応ボーレート：～56Gbaud、差動出力振幅：4Vp-p(diff)typ.、帯域：100kHz to 40GHz、消費電力：0.9W typ.、入／出力インターフェース：差動、パッケージサイズ：28×36×17mm。

【AG5PB6P】は、ボーレート：56 Gbaud、出力振幅：3.0 Vpp(diff.)の56Gbaud差動リニアアンプ。入出力DCブロックキャパシタ搭載。ゲイン調整範囲：-12～＋15dB、ピーキング調整範囲：15dB、消費電力：1.8W typ.、入出力インターフェース：差動、28pin QFN パッケージ：5×5×1.6mm。

【AS8B115L240M】は、Optical Coherent Tomography(OCT)を含むさまざまな光学測定機器用のために設計されたSLD(スーパールミネッセントダイオード)モジュール。

【AS5B320EM50M】は、光計測・センシング用の光源として開発された1.55μm帯SLD(スーパールミネッセントダイオード)モジュール。広いスペクトルで高出力な低コヒーレント光を偏波保持光ファイバから取り出すことができ、幅広い環境下で動作可能。

【AS5B310KM50M】は、光計測・センシング用の光源として開発された1.55μm帯SLD(スーパールミネッセントダイオード)モジュール。広いスペクトルで高出力な低コヒーレント光を偏波保持光ファイバから取り出すことができ、幅広い環境下で動作可能。

【AM8P8006SL45G】は、眼科OCT装置などの光源として開発された880nm帯のドライブ回路付きSLD(スーパールミネッセントダイオード)ユニット。1筐体にSLD光源とドライブ回路を内蔵し、組込みに適している。

【AQA5500D／AQB5500D】は、単一の狭線幅の縦モードをモードホップフリーで掃引する、位相連続かつ高コヒーレンスな波長掃引光源。装置への組込みに適した小型・軽量のビルトインユニットタイプであり、ベンチトップタイプの「AQA5500P／AQB5500P」と同じ性能を有している。

【AQA5500P／AQB5500P】は、単一の狭線幅の縦モードをモードホップフリーで掃引できる、位相連続かつ高コヒーレンスな波長掃引光源。この光源を光干渉法による測長計測に用いれば、広い測長範囲を高精度で測定することが可能。