〜ハイブリッドテスト技術で、ISO 26262規定の厳密な機能安全テスト要件に対応〜

メンター・グラフィックス・コーポレーション（本社: 米国オレゴン州、以下メンター・グラフィックス）は、ルネサス エレクトロニクス株式会社（以下ルネサス）が、ISO 26262が規定する厳密な機能安全性が求められるテスト要件に対応するために、メンター・グラフィックスのTessent® Hybrid TestKompress®/ LogicBISTソリューションを採用したことを発表しました。このハイブリッド技術は、テスト回路の面積を大幅に削減しながら、低DPM（Defects per Million）を実現する高圧縮スキャンテストとBIST（Built-In Self-Test）を含む完全なソリューションを提供し、自動車制御などの極めて高い信頼性が求められるアプリケーションに最適です。

「高圧縮スキャンテストとロジックBISTのコンビネーションは、自動車業界の規格であるISO 26262が求める出荷テストと、出荷後のPOST（Power On Self-Test）に対応するための高品質ソリューションを提供してくれます。圧縮ATPGとBISTの実装を別々にではなく、統合ソリューションとして提供するメンター・グラフィックスのTessentは、ルネサスにおけるDFT（テスト容易化設計）実装フローの簡素化を実現し、テスト回路の面積削減を可能にするとともに、開発時間を削減しTime-to-Marketを短縮させます。」ルネサス、第一事業本部 システムインテグレーション事業統括部 デザインオートメーション部 主管技師、浅香 俊治氏は、上記のように述べています。

Tessent Hybrid TestKompress/LogicBISTは、フィールドシステム・セルフテストと圧縮ATPGを統合して提供し、バーンイン・テストなどのようにテスタメモリやテストインタフェースが限られる場合にも、最高のテスト品質を実現します。また、テストパターンセットの生成フローも統合されているので、Tessent LogicBISTによる疑似ランダムパターンを補完する、「トップアップ」パターンを圧縮率100倍以上で自動生成することも可能です。このハイブリッド・ソリューションは、低DPMテストとインシステム・テスト機能を提供し、量産テストにかかる時間とコストを最小限化します。

「Tessentによるハイブリッド・ソリューションは、製造過程だけでなく市場に出た後も厳密な試験が必要となるようなIC製品に対して、テスト時間とコストを削減する最も効果的な方法を提供します。また、これらのテスト機能の実装に必要とされる回路数を減らすとともに、実装プロセスを簡素化します。」と、メンター・グラフィックス、Design to Silicon Division、Vice President and General manager、Joseph Sawickiは、上記のように述べています。