製品カタログ・資料
- き裂進展モニタ CGM-7(交流電位差法)
ファイル形式:pdf ファイルサイズ:0.57MB日本ハイコンの「CGM-7」は、英国マテレクト社が永年にわたる研究と経験により開発した交流電位差法(ACPD)により、金属のき裂の成長をモニタする測定器。同社が開発した「CGM-5R」の、高い安定性と超高分解能自動位相設定機能を引き継いだ。マイクロプロセッサをベースとして必要な設定を、前面のディスプレイに表示されるメニュープログラムによって行うことができる、最新鋭のポータブル測定器。 【用途】 ・安定き裂成長過程の研究 ・き裂の寸法評価 ・動的き裂発生と成長の研究 ・試験片への予き裂導入時のモニタリング ・疲労による割れ成長に関する研究 ・応力腐食割れの研究 ・材料劣化の研究 ・き裂発生時のモニタリング
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会社情報
日本ハイコンは、昭和53年の設立以来“日本に無い社会的に意義のある新しい技術を海外より紹介し、日本の産業の発展に寄与すること”を使命として、輸入販売商社業務に精励して参りました。
日本ハイコン(株)
弊社の社名である「ハイコン」とは、“High Confidence(大いなる信頼)”を示しております。弊社ではこの社名に恥じぬよう、お客様はもちろん、海外メーカー、社員間においても良好なコミュニケーションの確立に努めております。
皆様の一層のご支援を賜りますよう、お願い申し上げます。
〒 107-0052 港区赤坂2-4-1 白亜ビル9F
http://www.hicon.co.jp/詳細はこちら
【用途】
・安定き裂成長過程の研究
・き裂の寸法評価
・動的き裂発生と成長の研究
・試験片への予き裂導入時のモニタリング
・疲労による割れ成長に関する研究
・応力腐食割れの研究
・材料劣化の研究
・き裂発生時のモニタリング