テラヘルツ光サンプリング解析システム TAS7400TS
最終更新日:2014/05/01
このページを印刷アプリケーション開発環境を安価にて提供
【TAS7400TS】は、テラヘルツ波の光源やテラヘルツ波のデータ収集機能などを備えた解析装置。自社開発の低ジッタ・ファイバレーザと独自のアナログ信号解析技術により、業界最高レベルの安定した測定再現性(±0.03%以内)を実現。既売品の「テラヘルツ発生モジュール」および「テラヘルツ検出モジュール」と組み合わせて、同社独自の「テラヘルツ分光・イメージング解析プラットフォーム」を構成。ファイバ・ピグテール型の発生/検出モジュールにより、クライオスタットや自動ステージへの接続など測定エリアの自由なレイアウトを可能にし、テラヘルツおよび応用アプリケーションの研究開発に最適な環境を構築することができる。医薬、バイオテクノロジー、新素材開発など幅広い分野へ展開が期待される。
一緒に閲覧されている製品
その他製品一覧
電磁波測定システム Model 44St…
Wavecontrol社製 電磁界測定器 …
タイムウェーブレシーバ 時刻電…
電磁波測定器 UHS2-USB
無線方向探知 可搬用受信アンテ…
高速SAR測定システム ART-MANシ…
RFレベルモニタ RF031
920MHz帯RFID対応電界強度簡易…
タイムウェーブレシーバ 時刻電…
広帯域電磁界測定器 NBM-520
VHF帯用電磁波エアーインターフ…
ノイズレコーダ Model R-5001
3軸テスラメーター 3MH3
誘電率・透磁率測定装置 HCPPシ…
電磁界測定器 SRM-3000セレクテ…
波長安定化変調機能付きレーザ…
コンパクトガウスメータ Model …