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BST(バウンダリー・スキャンテスタ)

(株)ニューリー・土山

最終更新日:2016/11/28

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  • BST(バウンダリー・スキャンテスタ)
実装検査工程の信頼性が向上
本製品は、AOIやICTでは実装品質保証ができないBGA/CSPの検査・故障個所診断が行えるBST(バウンダリー・スキャンテスタ)。5ピンのJTAG端子にて検査ができるため、設計試作段階から量産まで適用可能。検査プログラムはBST情報とネットリストから自動生成のため、BST専門知識も不要。また、単にOK/NGの検査結果だけではなくLSIのピン/ネットレベルで不良個所を特定でき、実装工程への品質フィードバックが可能。さらに、BST非対応のBST周辺デバイスに対しても、BSTデバイスを経由しての検査が行える。

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企業基本情報

社名:
(株)ニューリー・土山
住所:
〒 528-0211
甲賀市土山町北土山979
Web:
http://www.newly-t.com

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