干渉計振動観察装置 SAGNAC

製品カタログ・資料

サニャック干渉計振動観察装置

ファイル形式：pdf ファイルサイズ：1.77MB「高周波振動分布を可視化!」 今や半導体などのエレクトロニクス産業だけでなく、物性研究、バイオテクノロジー、デバイス開発などあらゆる分野で利用されるMEMS技術。 無線通信分野ではこのMEMS技術を用いて、高周波領域で使用可能なデバイスの開発が進んでいます。 このようなデバイス開発の発展に伴い、ネオアークではGHz帯の高周波用デバイス(SAW,FBAR等)の振動分布を可視化する装置を提供致します。デバイスの動作確認・設計の向上、不良品の原因調査等にご活用いただけます。