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デュアルタイプ膜厚計 LZ−200J

(株)ケツト科学研究所

最終更新日:2017/03/29

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  • デュアルタイプ膜厚計 LZ−200J
プリンタ内蔵のポータブルタイプ
【LZ−200J】は、電磁式と過電流式の両機能を備えたデュアルタイプ膜厚計。磁性金属上、および非磁性金属上のさまざまな被膜厚測定に素早く対応。ボタンひとつで平均値、標準偏差、最大値、最小値が求められる統計計算機能、キャリブレーション・メモリ機能、リミット設定機能などを装備。主な仕様は、測定範囲（電磁誘導式）：0〜1500μm／6000mils、測定範囲（過電流式）：0〜800μm／3200mils、など。
    　　　　　　　　

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社名：
(株)ケツト科学研究所
住所：
〒 143-8507
大田区南馬込1-8-1
Web：
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