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(株)ケツト科学研究所
住所：
〒 143-8507
大田区南馬込1-8-1
Web：
http://www.kett.co.jp/

電磁膜厚計 LE−200J

(株)ケツト科学研究所

最終更新日:2017/03/29

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  • 電磁膜厚計 LE−200J
測定結果をその場でプリントアウト可能
【LE−200J】は、ポータブルタイプのプリンタ内蔵型電磁膜厚計。磁性金属上に施されたメッキ（電解メッケルメッキは除く）、塗装、ライニングなどの膜厚を、皮膜に傷をつけることなく素早く正確に測定可能。主な仕様は、測定方式：電磁誘導式、測定範囲：0〜1500μm／6000mils、測定精度：±0.3μm（15μm未満／±2％（15μm以上）、分解能：0.1μm（100μm未満）／1.0μm（100μm以上）、など。
    　　　　　　　　

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