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過電流膜厚計 LH−200J

(株)ケツト科学研究所

最終更新日:2017/03/29

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  • 過電流膜厚計 LH−200J
コンパクトボディにプリンタを内蔵
【LH−200J】は、非磁性金属上の絶縁被膜を傷つけることなく、素早く正確に測定可能な過電流膜厚計。内蔵のプリンタにより、測定結果をその場でプリントアウト可能。統計計算、キャリブレーション・メモリ、リミット設定など、便利な機能も装備。主な仕様は、測定方式：過電流式、測定範囲：0〜800μm／3200mils、測定精度：±1μm（50μm未満／±2％（50μm以上）、分解能：0.1μm（100μm未満）／1.0μm（100μm以上）、など。
    　　　　　　　　

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企業基本情報

社名：
(株)ケツト科学研究所
住所：
〒 143-8507
大田区南馬込1-8-1
Web：
http://www.kett.co.jp/