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レーザー平面干渉計 G100M

株式会社渋谷光学

最終更新日:2025/04/14

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  • レーザー平面干渉計 G100M
高品質で低価格の中国・SHINE OPTICS社製
【G100M】は、中国・SHINE OPTICS社の高品質で低価格なレーザー平面干渉計。有効開口:100mm。正立式構造を採用し、平面部品の平置き測定・高精度測定に適している。高性能で長寿命のレーザー、高解像度の光学系、1~6倍の画像拡大機能、精密な平面標準ミラーなど最先端の技術を結集して、高精度な平面光学部品の測定を実現。また位相シフト干渉縞解析ソフトウェア「Sirius」を搭載し、測定精度と効率を向上。測定デモや、ユーザーのニーズに合わせたカスタマイズにも対応。

製品カタログ・資料

レーザー平面干渉計G100M
レーザー平面干渉計G100M

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:12.59MB中国の光学機器の大手メーカーであるSHINE OPTICS社の高品質で低価格なレーザー平面干渉計G100Mをご紹介します。

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