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低インダクタンス用インパルス試験器 Chroma Model 19301

クロマジャパン(株)

最終更新日:2015/03/11

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  • 低インダクタンス用インパルス試験器 Chroma Model 19301
0.1~100μHの広いインダクタンス試験範囲をカバー
【Chroma Model 19301】は、低インダクタンス巻線部品のために開発された測定器。印加電圧10~100Vdcに対応し、高速200MHzのサンプリングによって取得した波形データを4種類のインパルス試験判定方法(波形面積比較/波形差分面先比較/波形フラッター検出/波形二次微分検出)で高精度な測定が可能。4端子試験回路機能を使用することで、超低インダクタンスのコイル、チップ、パワーインダクタンス測定のほか、チョークコイル、巻線数の少ないコイルの測定に最適。ディスプレイにはTFTカラーLCDを搭載し、ユーザーの操作性を追求したGUIを採用。測定した波形は装置前面に準備されたUSBインターフェースを経由し、画面のハードコピーおよび測定データの保存が可能。

製品カタログ・資料

低インダクタンス用インパルス試験器 MODEL19301
低インダクタンス用インパルス試験器 MODEL19301

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:1.16MB【Chroma Model 19301】は、低インダクタンス巻線部品のために開発された測定器。印加電圧10~100Vdcに対応し、高速200MHzのサンプリングによって取得した波形データを4種類のインパルス試験判定方法(波形面積比較/波形差分面先比較/波形フラッター検出/波形二次微分検出)で高精度な測定が可能。4端子試験回路機能を使用することで、超低インダクタンスのコイル、チップ、パワーインダクタンス測定のほか、チョークコイル、巻線数の少ないコイルの測定に最適。ディスプレイにはTFTカラーLCDを搭載し、ユーザーの操作性を追求したGUIを採用。測定した波形は装置前面に準備されたUSBインターフェースを経由し、画面のハードコピーおよび測定データの保存が可能。

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〒 223-0057
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