差動ADCドライバ内蔵耐放射線性36V計測アンプ ISL70617SEH／ISL70517SEH

【ISL70617SEH／ISL70517SEH】は、±4～±18Vの広い動作電圧範囲により、大多数のアナログ電源レールに対応した差動入力レール・ツー・レール出力計測アンプ。個別の電源ピンを使用し、異なる電源から入出力段への給電が行え、また、高いコモンモード電圧上で入力信号を受け取り、低電圧デバイスへのレベルシフトを可能にする。「ISL70617SEH」は、通信衛星に重要な低レベル・センサ・テレメトリ・データのために優れたシグナル・プロセッシング性能を提供し、高い集積度とクラス最高の性能により、システムのサイズ・重量・電力(SWAP)コストの低減と製品開発期間の短縮を可能にする。すべてのゲイン設定で高いコモンモード除去比(CMRR)と電源電圧除去比(PSRR)を提供し、設計者は2個の外部抵抗を使い、計測アンプのゲインを0.1～10,000の間で簡単にプログラムできる。宇宙環境に極めて近い10mrad／秒の低線量率テストが実施されており、ウエハ・レベルで75krad(Si)まで性能が保証されている。同社独自のシリコン・オン・インシュレータ・プロセスを採用しており、重イオン環境で60MeVのシングル・イベント・ラッチアップ(SEL)耐性とシングル・イベント・バーンアウト(SEB)耐性を提供。さらに、10μ秒未満のシングル・イベント・トランジェント(SET)性能により、追加のフィルタリングを不要にする。また「ISL70517SEH」は、ISL70617SEHと同様の特長を備えたうえ、差動入力とレール・ツー・レール・シングルエンド出力を提供する。