SWIR 2K ラインスキャンカメラ BVC3112GM
最終更新日:2025/11/07
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光の吸収と透過による二値化判別において効果を発揮
【BVC3112GM】は、小型・軽量でコンパクトな筐体に新開発の2K InGaAsラインセンサを搭載した高感度・高速読み出しSWIRラインスキャンカメラ。波長帯域：900～1700nmのSWIR帯域をカバーし、用途に合わせてセンサ感度を選択可能。最大40kHzのラインレートで画像の取り込みが可能。M52マウントレンズに対応、インターフェースはGigE(1000Base-T、RJ45コネクタ)、GigE Vision 2.0。シリコンウェハ欠陥検査／基板内部透過評価をはじめ、二次電池(リチウムイオン)の電極コーティング欠陥／濡れ性検査、錠剤コーティング検査などに有用。
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製品カタログ・資料
- SWIR 2K ラインスキャンカメラ BVC3112GM
ファイル形式：pdf ファイルサイズ：0.84MB■業界・装置分野、具体的な用途：導入目的 【半導体・電子部品】シリコンウェハ欠陥検査 / 基板内部透過評価：シリコン透過性による内部欠陥可視化 【二次電池（リチウムイオン）】電極コーティング欠陥 / 濡れ性検査：材料吸収差で状態判定可能 【食品検査】異物検査 / 水分・糖度評価 / 選別：水分・成分差で品質判定が容易 【医薬・医療】錠剤コーティング検査 / 混在検査：包装越しでも内部状態評価可能 【樹脂・プラスチックリサイクル】樹脂素材識別 / 選別ライン：吸収特性による樹脂識別が可能 【ガラス工業】表面欠陥 / 内部気泡検査：可視不可視欠陥を可視化 【農業・果実選別】水分チェック / 成熟判定：吸収率差で品質評価が可能
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