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3次元／2次元外観検査装置 PVI-500

新光エンジニアリング(株)

最終更新日:2014/01/31

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  • 3次元／2次元外観検査装置 PVI-500
非走査マルチビーム共焦点3Dセンサを搭載
【PVI-500】は、1枚トレイ供給タイプのBGA／CSP／WLCSP 3次元・2次元外観検査装置。2次元外観は製品上面、下面をCCDカメラで検査。3次元外観は非走査マルチビーム共焦点3Dセンサで検査、特にコプラナリティ、スタンドオフを高精度で計測可能。良品のトレイ収納はカメラによるアライメント機能により正確に行われる。
    　　　　　　　　

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企業基本情報

社名：
新光エンジニアリング(株)
住所：
〒 942-0231
上越市大字下吉野1706-12
Web：
http://www.shinko-eng.co.jp/