X線透過式粒度分布測定装置 セディグラフ5100
最終更新日:2014/01/30
このページを印刷
粉粒体およびスラリーの測定に有用
【セディグラフ5100】は、球形以外の棒状や偏平な形状でも再現性に優れるX線透過式粒度分布測定装置。コンパクト設計で、セディメンテーション技法（X線／液相沈降）を使って粒子サイズを決定。X線の採用によりサブミクロンまで高精細で、最短わずか3分の高速測定が可能。0.1〜300μmまでのワイドレンジ測定ができる。
一緒に閲覧されている製品
X線透過式粒度分布測定装置 セディグラフ5100のお問い合わせ
その他製品一覧
ナノ粒子解析システム
応力制御型レオメータ AR-G2
粒子径・ゼータ電位・分子量測…
上皿型重量はかり S-box
灰溶融性測定装置 AF700型
マルチフェーズ炭素水素分析装…
大気イオンカウンタ
炭素硫黄同時分析装置 CS744シ…
ACCURA Mini α(アキュラミニア…
比抵抗計 873PHOENIX
酸素モニタ OXYMAN Plus
粉体流動性分析装置 パウダーレ…
有機元素分析装置 CHN828シリーズ
微小領域膜厚測定装置 F40
RoHS対応有害元素測定器 EDシリ…
動的粘弾性測定装置(DMA) RSA-G2
プローブ型インライン粒度分布…
酸素・窒素・水素分析装置 ONH8…
カロリーメータ AC500型
