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X線透過式粒度分布測定装置 セディグラフ5100
最終更新日:2014/01/30
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粉粒体およびスラリーの測定に有用
【セディグラフ5100】は、球形以外の棒状や偏平な形状でも再現性に優れるX線透過式粒度分布測定装置。コンパクト設計で、セディメンテーション技法（X線／液相沈降）を使って粒子サイズを決定。X線の採用によりサブミクロンまで高精細で、最短わずか3分の高速測定が可能。0.1〜300μmまでのワイドレンジ測定ができる。
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