マイクロ波用試験・検査治具
最終更新日:2016/11/30
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端子構造の被測定物を高精度で試験可能
【マイクロ波用試験・検査治具】は、サーフェイスマウント、ドロップインタイプの機能部品の試験・検査に最適な製品。RF／マイクロ波帯のデバイス／コンポーネントの各種高周波性能をネットワークアナライザなどで測定する際に、端子構造の被測定物を簡便に収容し精度良く試験できる測定治具。DC・RFのバーイン機能を装備可能。
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