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光学式形状測定器 TopMap Micro.View

ポリテックジャパン(株)

最終更新日:2020/10/22

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  • 光学式形状測定器 TopMap Micro.View
コンパクトなセットアップで表面を測定
【TopMap Micro.View】は、操作性およびコストパフォーマンスに優れたコンパクトな光学式形状測定器。三次元形状、粗さ、および表面詳細の非接触測定により、表面欠陥の検出が行える。100mmのz方向測定レンジを持つContinuous Scanning Technology(CST)により、複雑な形状をナノメートルの分解能で測定可能。コンパクトな卓上型で容易に測定でき、高速化する高性能のフォーカスファインダを含むエレクトロニクスを有する。ノイズが大きく測定が難しい製造ラインの環境などにおいても、オプションのECT(Environmental Compensation Technology)を使うことにより、信頼性の高い正確な測定を実現。製造や研究の分野において、高精度の測定が行える。

製品カタログ・資料

光学式形状測定器 TopMap Micro.View
光学式形状測定器 TopMap Micro.View

ファイル形式:pdf ファイルサイズ:3.18MB【TopMap Micro.View】は、操作性およびコストパフォーマンスに優れたコンパクトな光学式形状測定器。三次元形状、粗さ、および表面詳細の非接触測定により、表面欠陥の検出が行える。100mmのz方向測定レンジを持つContinuous Scanning Technology(CST)により、複雑な形状をナノメートルの分解能で測定可能。コンパクトな卓上型で容易に測定でき、高速化する高性能のフォーカスファインダを含むエレクトロニクスを有する。ノイズが大きく測定が難しい製造ラインの環境などにおいても、オプションのECT(Environmental Compensation Technology)を使うことにより、信頼性の高い正確な測定を実現。製造や研究の分野において、高精度の測定が行える。

会社情報

ポリテックジャパン(株)

ポリテックはレーザドップラ振動計、レーザ表面速度計、白色光干渉計などの最先端の光学計測技術で、「振動」「表面形状」「速度」など、様々な業界におけるお客様の困難な計測ニーズにお応えします.

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〒 222-0033  横浜市港北区新横浜3-1-9 アリーナタワー13F

http://www.polytec.com/jp/
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企業基本情報

社名:
ポリテックジャパン(株)
住所:
〒 222-0033
横浜市港北区新横浜3-1-9 アリーナタワー13F
Web:
http://www.polytec.com/jp/

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