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企業基本情報

社名:
ポリテックジャパン(株)
住所:
〒 222-0033
横浜市港北区新横浜3-1-9 アリーナタワー13F
Web:
http://www.polytec.com/jp/

非接触表面粗さ・形状測定機 TopMap Micro.View

ポリテックジャパン(株)

最終更新日:2024/09/18

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  • 非接触表面粗さ・形状測定機 TopMap Micro.View
コンパクトなセットアップで表面を測定
【TopMap Micro.View】は、操作性およびコストパフォーマンスに優れたコンパクトな顕微鏡型光学式形状測定器。表面形状、粗さ、および表面欠陥などを非接触で測定できる。100mmのz方向測定レンジを持つContinuous Scanning Technology(CST)により、複雑な形状をナノメートルの分解能で測定可能。コンパクトな卓上型で容易に測定でき、焦点距離を自動で合わせるフォーカスファインダを含むエレクトロニクスを有する。ノイズが大きく測定が難しい製造ラインの環境などにおいても、オプションのECT(Environmental Compensation Technology)を使うことにより、信頼性の高い正確な測定を実現。製造や研究の分野において、高精度の測定が行える。

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