製品カタログ・資料
- 回転軸割り出し角度計測システム XR20-W
ファイル形式:pdf ファイルサイズ:2.23MB【XR20-W】は、同社の「レーザー計測システム XL-80」とともに機能する回転軸割り出し角度計測システム。高精度のサーボ制御軸に統合された角度反射鏡より構成しており、この軸と本体のハウジングに対する光学部品の角度位置決めは、メインベアリングにスケールが直接刻みこまれた超高精度エンコーダシステムにより制御されている。マウンティングリング(キットに同梱)を使用してテストする軸に取り付ける。本製品をレーザー干渉計を組み合わせて使用することで、±1arc秒内の精度(1mの距離で5ミクロン未満の動きに相当)で軸の回転を測定することが可能。
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レニショーの製品は、工作機械の自動運転、三次元測定、積層造形、ゲージング、ラマン分光測定、機械キャリブレーション、位置決めフィードバック、歯科用 CAD/CAM、形状記憶合金、大規模調査、定位神経外科と医療診断などの様々な用途に使用されています。
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