SoCデバイス・テスト・システム 8GWGD
最終更新日:2015/11/24
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アナログ／ミクスド・シグナルSoC試験向け
【8GWGD】は、ハードディスク・ドライブなど大容量記憶装置で使用されるSoCデバイスの試験向けに開発され、業界最高レベルの多数個同時測定が可能なテストシステム「T2000」専用モジュール。本製品のAWG(任意波形発生器)は、PRML波形やマルチトーン波形など高速サンプリングで広帯域なアナログ信号を出力することで、高速アナログ／デジタル・コンバータやプリアンプなどのアナログ・フロント・エンド・デバイスの試験を可能にした。また同社製品「8GDM」を組み合わせることにより、大容量記憶装置向けSoCで一般的なSerdesなどの高速インタフェース回路に加え、リードチャンネル・デバイスで必要とされる複雑かつ高速なアナログ信号試験にも対応する。
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