ショートオープンテスタ FA1221
最終更新日:2021/04/15
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- <電子部品/ケーブル/コネクタの信頼性試験に>
PCベースでフレキシブルな運用が可能。長期的に抵抗変化のトレンドを計測するなど、検査現場で活躍が期待できます。
(ケーブル屈曲耐久試験、半導体はんだ接合部の過負荷劣化試験、リレー接点耐久試験等)
・卓上型1BOXに機能を集約し、装置組込みを容易に実現
・ショートオープンテストに機能を特化
・低抵抗を安定して測定できる4端子低抵抗測定
製品カタログ・資料
- インサーキットテスタ FA1220/ショートオープンテスタ FA1221
ファイル形式:pdf ファイルサイズ:2.04MB実装基板の高速多機能検査に適した小型モジュールタイプのインサーキットテスタ FA1220と、多チャネル高速検査が可能なショートオープンテスタ FA1221が登場。卓上型1BOXに機能を集約し、装置組込みを容易に実現。ともに使い易いユーザインタフェースと高品質で、検査現場の強い味方となります。
関連製品カタログ・資料
会社情報
オンリーワンへ挑戦し、高付加価値企業を目指しています。
日置電機株式会社
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