米国製低コストターンキー誘電体テストシステム

最終更新日:2022/07/01

誘電体／圧電体／焦電体の研究開発に貢献し、低コスト・短納期にて提供

本システムは、ユーザーの既存機器や、再生品(保証付き)との統合・組み合わせにより、低コストでの導入・設置が可能な米国製ターンキー誘電体テストシステム。静電容量(誘電率)および誘電損失 tanδ 対周波数および温度：LCRメータ(Agilent 4284A／4294AまたはE4980A)、温度チャンバ(液体窒素冷却)をコントロールプログラム「LabVIEW」で統合。複数の試料に対応。DF精度：<0.1％。このほか安価な広帯域インピーダンスアナライザ、高温テストチャンバ「HT1000」、強誘電体分極ループと誘電破壊テストシステムやソフトポリマフィルム用のサンプルテストフィクスチャなどを提供している。

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製品カタログ・資料

: 米国製低コストターンキー誘電体テストシステム
ファイル形式：pdf ファイルサイズ：0.54MB●静電容量(誘電率)および誘電損失tanδ 対周波数および温度:Agilent 4284A、4294A、またはE4980A LCR メータを温度チャンバ(液体窒素冷却)をLabVIEW コントロールプログラムで統合。複数の試料に対応。DF 精度<0.1%。 ●広帯域インピーダンスアナライザ:10 uHz~5 MHz (再生品/1年保証付き) 手頃な価格、温度データと統合 ±4000V DC バイアスまたは高AC での誘電体テスト ●高温テストチャンバ HT1000 常温～1000 ℃: ・Pt 電極・アルミナ断熱・オメガコントローラ・コンピュータコントロール ●強誘電体分極ループと誘電破壊テストシステム・一般的な強誘電性テストと誘電性テスト　・ソフトポリマフィルム用のサンプルテストフィクスチャ　・ソフトウェアは、充放電されたエネルギー密度を直接提供し、エネルギー密度とサイクルのサマリーファイルを使用してライフタイムテストを実行 ●高電圧漏れ電流、TSDC、焦電性・テスト電圧: ≦10 kV ・温度: -184℃～300℃ ・高感度、漏れ電流精度:≦ 1pA ・一台でマルチ機能:TSDC、焦電性と漏れ電流・薄膜やソフトサンプルへのダメージを与えない安定した最小フォースのスプリングロード電極・ASTMD257 テストのためのガードリング・オートマチックPC コントロールTSDC テスト